Распродажа

Электронные компоненты со склада по низким ценам, подробнее >>>

Новости электроники

Мне нравится

Комментарии

дима пишет в теме Параметры биполярных транзисторов серии КТ827:

люди куплю транзистар кт 827А 0688759652

тамара плохова пишет в теме Журнал Радио 9 номер 1971 год. :

как молоды мы были и как быстро пробежали годы кулотино самое счастливое мое время

Ивашка пишет в теме Параметры отечественных излучающих диодов ИК диапазона:

Светодиод - это диод который излучает свет. А если диод имеет ИК излучение, то это ИК диод, а не "ИК светодиод" и "Светодиод инфракрасный", как указано на сайте.

Владимир пишет в теме 2Т963А-2 (RUS) со склада в Москве. Транзистор биполярный отечественный:

Подскажите 2т963а-2 гарантийный срок

Владимир II пишет... пишет в теме Параметры биполярных транзисторов серии КТ372:

Спасибо!

Твердотельная электроника. Учебное пособие.

3.3. Емкость области пространственного заряда

Поскольку полный заряд в ОПЗ Qsc зависит от величины поверхностного потенциала ψs, то область пространственного заряда обладает определенной емкостью Csc.

Величина Csc, как следует из соотношения (3.18), будет равна:

   (3.54)

Для того, чтобы получить выражения для емкости ОПЗ в различных случаях (обеднение, обогащение, инверсия), можно либо непосредственно воспользоваться (3.54), либо воспользоваться выражениями для заряда Qsc, полученными в разделе 3.2.2. Напомним, что рассматривается полупроводник p-типа.

Область обогащения (ψs < 0)

Емкость ОПЗ Csc обусловлена емкостью свободных дырок Cp:

   (3.55)

Область обеднения и слабой инверсии (2φ0 > ψs > 0)

Емкость ОПЗ Csc обусловлена емкостью области ионизованных акцепторов CB:

   (3.56)

Из соотношения (3.56) следует, что емкость Csc в области обеднения слабо зависит от поверхностного потенциала ψs, убывая с ростом последнего. Минимальное значение емкости Csc достигается вблизи порогового значения поверхностного потенциала.

Емкость ОПЗ в области обеднения и слабой инверсии эквивалентна емкости плоского конденсатора, заполненного диэлектриком с относительной диэлектрической проницаемостью εs, пластины которого находятся друг от друга на расстоянии W, равном ширине ОПЗ.

Плоские зоны (ψs = 0)

Соотношения (3.55) и (3.56) несправедливы при ψs → 0, т.е. в области плоских зон у поверхности полупроводника. Непосредственная подстановка ψs = 0 в выражение (3.55) приводит к неопределенности типа "ноль делить на ноль".

Для расчета емкости плоских зон CFB необходимо провести разложение экспоненты в (3.55) в ряд и после предельных переходов имеем:

   (3.57)

Емкость ОПЗ в плоских зонах эквивалентна емкости плоского конденсатора с обкладками, удаленными на дебаевскую длину экранирования.

Область сильной инверсии (ψs > 2φ0)

Емкость ОПЗ Csc обусловлена емкостью свободных электронов Cn в инверсионном слое и при достаточно больших значениях поверхностного потенциала β(ψs - 2φ0) ≥ 7 будет равна:

   (3.58)

Из анализа (3.55) и (3.58) следует, что емкости свободных носителей в обогащении и сильной инверсии экспоненциально зависят от поверхностного потенциала ψs и имеют одинаковые значения, если величину поверхностного потенциала отсчитывать для инверсии от порогового значения ψs = 2φ0.

На рисунке 3.7 приведен график зависимости емкости ОПЗ Csc от величины поверхностного потенциала ψs, рассчитанной по соотношениям (3.55 - 3.58).

Рис. 3.7. Зависимость емкости области пространственного заряда Csc от поверхностного потенциала, рассчитанная в классическом (сплошная линия) и вырожденном (пунктирная линия) случае

Copyright © 2003-2008  Авторы







Ваш комментарий к статье
Физика поверхности и МДП-структуры - Емкость области пространственного заряда :
Ваше имя:
Отзыв: Разрешено использование тэгов:
<b>жирный текст</b>
<i>курсив</i>
<a href="http://site.ru"> ссылка</a>