Распродажа

Электронные компоненты со склада по низким ценам, подробнее >>>

Новости электроники

Мне нравится

Комментарии

дима пишет в теме Параметры биполярных транзисторов серии КТ827:

люди куплю транзистар кт 827А 0688759652

тамара плохова пишет в теме Журнал Радио 9 номер 1971 год. :

как молоды мы были и как быстро пробежали годы кулотино самое счастливое мое время

Ивашка пишет в теме Параметры отечественных излучающих диодов ИК диапазона:

Светодиод - это диод который излучает свет. А если диод имеет ИК излучение, то это ИК диод, а не "ИК светодиод" и "Светодиод инфракрасный", как указано на сайте.

Владимир пишет в теме 2Т963А-2 (RUS) со склада в Москве. Транзистор биполярный отечественный:

Подскажите 2т963а-2 гарантийный срок

Владимир II пишет... пишет в теме Параметры биполярных транзисторов серии КТ372:

Спасибо!

Твердотельная электроника. Учебное пособие.

3.4. Влияние вырождения на характеристики ОПЗ полупроводника

При высоком уровне легирования полупроводниковой подложки или сильных изгибах зон уровень Ферми в ОПЗ может оказаться вблизи дна зоны проводимости или потолка валентной зоны. В этом случае выражения для концентрации электронов и дырок, полученные при использовании больцмановской статистики, несправедливы, и необходимо для выражения концентрации электронов и дырок воспользоваться статистикой Ферми - Дирака. При этом для полупроводника p-типа, у которого уровень Ферми в объеме лежит по крайней мере выше вершины валентной зоны на 2(kT/q),

   (3.59)

где F1/2 - интеграл Ферми порядка 1/2, W0 - расстояние от вершины валентной зоны до уровня Ферми в нейтральном объеме.

Величины n и p будут равны:

   (3.60)

Подставляя эти соотношения (3.60) в (3.7) и решая уравнение Пуассона (3.6) с новым выражением ρ(z), получаем аналогичные выражения для полного заряда Qsc и емкости Csc в ОПЗ с учетом вырождения. Для области обогащения получаем:

   (3.61)
   (3.62)

Для области инверсии

   (3.63)
Рис. 3.8. Влияние вырождения на зависимость заряда в ОПЗ Qsc от поверхностного потенциала ψs для кремния p-типа
   (3.64)

где F3/2(η) и F1/2(η) имеют следующий вид:

   (3.65)
   (3.66)

Соотношения (3.61-3.64) несправедливы при ψs → 0 ввиду некоторых упрощений. В области ψs → 0 можно воспользоваться невырожденной статистикой, изложенной в разделе 3.2.

На рисунке 3.8 приведен график зависимости заряда Qsc, рассчитанного с учетом вырождения носителей заряда. Влияние вырождения на емкость Csc показано на рисунке 3.6.

Copyright © 2003-2008  Авторы







Ваш комментарий к статье
Физика поверхности и МДП-структуры - Влияние вырождения на характеристики ОПЗ полупроводника :
Ваше имя:
Отзыв: Разрешено использование тэгов:
<b>жирный текст</b>
<i>курсив</i>
<a href="http://site.ru"> ссылка</a>